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Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10649/908

Title: 中性子耐性を考慮した電子デバイスの高信頼化技術および安全技術に関する研究
Authors: 鳥羽, 忠信
Issue Date: 26-Mar-2018
Publisher: 長岡技術科学大学
language: ja
Contents Version: ETD
URI: http://hdl.handle.net/10649/908
Academic Degrees and number: 13102甲第851号
Academic Degrees and number: 甲第851号
Degree-granting date: 2018-03-26
Degree name: 博士(工学)
Degree-granting institutions: 国立大学法人長岡技術科学大学
Department and Graduate School of the degree examination: 工学研究科 情報・制御工学専攻
Degree Jury: 教授(主査) 平尾裕司、教授 安井寛治、教授 門脇敏、教授 福田隆文、准教授 木村哲也
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